3GeV高輝度放射光施設NanoTerasuの利用について

NanoTerasuビームライン情報Beamlines at NanoTerasu

引用元:PhoSICホームページ ビームラインマップ https://www.phosic.or.jp/

 

各ビームラインのビーム特性や実験ステーションの説明、測定例をご覧になれます。(PhoSICビームライン情報へリンク)

ビ

 

 

 

ームライン

測定法 測定法(アドバンスト)
BL07U 軟X線吸収分光
(XAS),
軟X線光電子分光
(XPS)
共鳴軟X線非弾性散乱
(RIXS),
ナノX線光電子分光
(NanoESCA)
BL08U 軟X線光電子分光
(XPS),
軟X線吸収微細構造
(SX-XAFS)
雰囲気軟X線光電子分光
(AP-XPS),
オペランド軟X線
吸収微細構造
(operando SX-XAFS)
BL08W_XRD 粉末X線回折,
二次元X線回折マッピング
表面X線回折,
In-situX線回折
BL08W_SAXS 小角X線散乱,
広角X線散乱・回折,
Grazing incidence小角・広角散乱・回折
 
BL08W_XAFS テンダーX線XAFS,
硬X線XAFS
 
BL09U HAXPES
(硬X線光電子分光法)
 
BL09W 白色X線CT,
白色X線イメージング
4D-CT
BL10U 単色X線CT マイクロビーム蛍光
マッピング,
USAXS,
XPCS,
X線タイコグラフィー
BL14U 軟X線吸収分光
(XAS),
軟X線磁気円二色性分光
(XMCD)
軟X線イメージング
SXM,STXM

 

ビームラインの測定例や利用例、成果論文等はこちらをご覧ください。

関連リンク

3GeV高輝度放射光施設NanoTerasuの利用について

 

 <本件についての問い合わせ>
 研究推進部 研究企画課 研究推進係 TEL.029-853-2928 (内線:2928)
 Email : suisin1[at]un.tsukuba.ac.jp ※ [at] を半角@に変更してメール送信ください。